ETG15F1涂层测厚仪特性:
*结构紧凑,传感器
*磁导法(ISO 2178, ASTM D7091), 测量导磁材料基体上的非导磁涂层。
*快速单手操作,也可放手测量。
*快速单手操作,也可放手测量。
*无需校准即可进行测量。
*多种校准方式可消除材料或形状变化所带来的误差。
*USB数据传输。
*基本统计运算功能。
测量方法 |
磁导法 |
测量范围 |
0~1500µm (0 ~60 mil) |
分辨率 |
0 ~ 999µm: 0.1µm, ≥1000µm: 1µm |
精 度 |
0 ~ 100µm: ±1.5µm , 101 ~ 1500µm: ≤ ±1.5 % |
存 储 |
1500个读数 |
显 示 器 |
带背光点阵液晶 |
电 源 |
1.5V*3 (AAA碱性电池) |
打 印 |
无线微型打印机(选 配) |
外形尺寸 |
88 X 67 X 30 mm |
重 量 |
120克 |