ETG15F2涂层测厚仪特点:
*构紧凑,体积小,内置传感器。
*量原理:磁法 (ISO 2178, ASTM D7091), 主要用于测量导磁基体上的不导磁附着层的厚度。
*背光的点阵式LCD显示器。
*于校准(软件校准)。
*置USB口及通讯线用于将存储的数据上传到电脑上分析或打印。
*计数据直接显示在屏幕上。
*时间无操作时自动关机。
技术参数:
测试原理 |
磁法测量 |
测量范围 |
0~1500μm (0 ~60 mil) |
显示分辨率 |
0 ~ 999μm: 0.1μm, ≥1000μm: 1μm |
精度 |
0 ~ 100μm: ± 1.5μm;101 ~ 1500μm: ≤ 1.5 % |
数据存储 |
1500组 |
显示器 |
点阵式LCD带背光 |
电源 |
1.5V*3 (3节7号碱性干电池),可连续使用大约80小时。 |
工作温度 |
0 ~ 50°C |
尺寸 |
88 X 67 X 30 mm |
重量 |
显示部分120g,传感器40g |
标准配置 |
涂层测厚仪, 测量基体, 一套(4片)校准片, 3 节7号碱性干电池, USB通讯线线, 数据上次软件光盘, 小包装袋,说明书,工厂检测证书 |
可选件 |
无线微型打印机 |