涂层测厚仪探头选择：
A.磁性法：F型测头（只对导磁物体生效）
当测尖与覆盖层接触，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
B.涡流法：N型测头
利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的硬度。